ଖେଳ
ଆପ୍
ମୁଭି ଏବଂ ଟିଭି
ପୁସ୍ତକଗୁଡ଼ିକ
ଶିଶୁ
google_logo Play
ଖେଳ
ଆପ୍
ମୁଭି ଏବଂ ଟିଭି
ପୁସ୍ତକଗୁଡ଼ିକ
ଶିଶୁ
none
search
help_outline
Google ମାଧ୍ୟମରେ ସାଇନ୍-ଇନ୍ କରନ୍ତୁ
play_apps
ଲାଇବ୍ରେରୀ ଓ ଡିଭାଇସ୍
payment
ପେମେଣ୍ଟ ଏବଂ ସଦସ୍ୟତାଗୁଡ଼ିକ
reviews
ମୋର ପ୍ଲେ ଗତିବିଧି
redeem
ଅଫର୍
Play Pass
settings
ସେଟିଂସ୍
ଗୋପନୀୟତା ନୀତି
•
ସେବାର ସର୍ତ୍ତାବଳୀ
ଖେଳ
ଆପ୍
ମୁଭି ଏବଂ ଟିଭି
ପୁସ୍ତକଗୁଡ଼ିକ
ଶିଶୁ
A BASIC Program for Calculating Dopant Density Profiles from Capacitance-voltage Data: Volume 13
Richard L. Mattis
·
Martin G. Buehler
ଜାନୁଆରୀ 1975
· U.S. Department of Commerce, National Bureau of Standards
5.0
star
1ଟି ସମୀକ୍ଷା
ଇବୁକ୍
33
ପୃଷ୍ଠାଗୁଡ଼ିକ
ମାଗଣାରେ ପାଆନ୍ତୁ
ୱିଶ୍ଲିଷ୍ଟ ସହ ଯୋଡ଼ନ୍ତୁ
ଏହି ଇବୁକ୍ ବିଷୟରେ
arrow_forward
ମୂଲ୍ୟାଙ୍କନ ଓ ସମୀକ୍ଷା
ରେଟିଂ ଓ ସମୀକ୍ଷାଗୁଡ଼ିକୁ ଯାଞ୍ଚ କରାଯାଇନାହିଁ
info_outline
ରେଟିଂ ଓ ସମୀକ୍ଷାଗୁଡ଼ିକୁ ଯାଞ୍ଚ କରାଯାଇନାହିଁ
info_outline
ରେଟିଂ ଓ ସମୀକ୍ଷାଗୁଡ଼ିକୁ ଯାଞ୍ଚ କରାଯାଇନାହିଁ
info_outline
5.0
1ଟି ସମୀକ୍ଷା
5
4
3
2
1
ଏହି ଇବୁକ୍କୁ ମୂଲ୍ୟାଙ୍କନ କରନ୍ତୁ
ଆପଣ କଣ ଭାବୁଛନ୍ତି ତାହା ଆମକୁ ଜଣାନ୍ତୁ।
ଏକ ସମୀକ୍ଷା ଲେଖନ୍ତୁ
ପଢ଼ିବା ପାଇଁ ତଥ୍ୟ
expand_more
ସ୍ମାର୍ଟଫୋନ ଓ ଟାବଲେଟ
Google Play Books ଆପ୍
କୁ,
Android
ଓ
iPad/iPhone
ପାଇଁ ଇନଷ୍ଟଲ୍ କରନ୍ତୁ। ଏହା ସ୍ଵଚାଳିତ ଭାବେ ଆପଣଙ୍କ ଆକାଉଣ୍ଟରେ ସିଙ୍କ ହୋଇଯିବ ଏବଂ ଆପଣ ଯେଉଁଠି ଥାଆନ୍ତୁ ନା କାହିଁକି ଆନଲାଇନ୍ କିମ୍ବା ଅଫଲାଇନ୍ରେ ପଢ଼ିବା ପାଇଁ ଅନୁମତି ଦେବ।
ଲାପଟପ ଓ କମ୍ପ୍ୟୁଟର
ନିଜର କମ୍ପ୍ୟୁଟର୍ରେ ଥିବା ୱେବ୍ ବ୍ରାଉଜର୍କୁ ବ୍ୟବହାର କରି Google Playରୁ କିଣିଥିବା ଅଡିଓବୁକ୍କୁ ଆପଣ ଶୁଣିପାରିବେ।
ଇ-ରିଡର୍ ଓ ଅନ୍ୟ ଡିଭାଇସ୍ଗୁଡ଼ିକ
Kobo eReaders ପରି e-ink ଡିଭାଇସଗୁଡ଼ିକରେ ପଢ଼ିବା ପାଇଁ, ଆପଣଙ୍କୁ ଏକ ଫାଇଲ ଡାଉନଲୋଡ କରି ଏହାକୁ ଆପଣଙ୍କ ଡିଭାଇସକୁ ଟ୍ରାନ୍ସଫର କରିବାକୁ ହେବ। ସମର୍ଥିତ eReadersକୁ ଫାଇଲଗୁଡ଼ିକ ଟ୍ରାନ୍ସଫର କରିବା ପାଇଁ
ସହାୟତା କେନ୍ଦ୍ର
ରେ ଥିବା ସବିଶେଷ ନିର୍ଦ୍ଦେଶାବଳୀକୁ ଅନୁସରଣ କରନ୍ତୁ।
Richard L. Mattis ଦ୍ୱାରା ଅଧିକ
arrow_forward
A BASIC Program for Calculating Dopant Density Profiles from Capacitance-voltage Data: Volume 13
Richard L. Mattis
4.0
star
ନିଃଶୁଳ୍କ
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
5.0
star
ନିଃଶୁଳ୍କ
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Stimulated Current and Capacitance Measurements, Videotape Script
Martin G. Buehler
1.0
star
ନିଃଶୁଳ୍କ
Microelectronic test pattern NBS-3 for evaluating the resistivity-dopaut density relationship of silicon: Issues 400-422
Martin G. Buehler
ନିଃଶୁଳ୍କ
ସମାନ ଇବୁକ
arrow_forward
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
5.0
star
ନିଃଶୁଳ୍କ
Microelectronic Test Pattern NBS-3 for Evaluating the Resistivity-dopant Density Relationship of Silicon: Volume 13
Martin G. Buehler
5.0
star
ନିଃଶୁଳ୍କ
Planar Test Structures for Characterizing Impurities in Silicon: Volume 13
Martin G. Buehler
ନିଃଶୁଳ୍କ
Microelectronic Test Patterns: An Overview, Volume 13
Martin G. Buehler
ନିଃଶୁଳ୍କ