เกม
แอป
ภาพยนตร์และทีวี
หนังสือ
เด็ก
google_logo Play
เกม
แอป
ภาพยนตร์และทีวี
หนังสือ
เด็ก
none
search
help_outline
ลงชื่อเข้าใช้ด้วย Google
play_apps
คลังและอุปกรณ์
payment
การชำระเงินและการสมัครใช้บริการ
reviews
กิจกรรมของฉันใน Play
redeem
ข้อเสนอพิเศษ
Play Pass
settings
การตั้งค่า
นโยบายความเป็นส่วนตัว
•
ข้อกำหนดในการให้บริการ
เกม
แอป
ภาพยนตร์และทีวี
หนังสือ
เด็ก
A BASIC Program for Calculating Dopant Density Profiles from Capacitance-voltage Data: Volume 13
Richard L. Mattis
·
Martin G. Buehler
ม.ค. 1975
· U.S. Department of Commerce, National Bureau of Standards
5.0
star
1 รีวิว
eBook
33
หน้า
รับฟรี
เพิ่มเป็นสิ่งที่อยากได้
เกี่ยวกับ eBook เล่มนี้
arrow_forward
การให้คะแนนและรีวิว
คะแนนและรีวิวไม่ได้รับการยืนยัน
info_outline
คะแนนและรีวิวไม่ได้รับการยืนยัน
info_outline
คะแนนและรีวิวไม่ได้รับการยืนยัน
info_outline
5.0
1 รีวิว
5
4
3
2
1
ให้คะแนน eBook นี้
แสดงความเห็นของคุณให้เรารับรู้
เขียนรีวิว
ข้อมูลในการอ่าน
expand_more
สมาร์ทโฟนและแท็บเล็ต
ติดตั้ง
แอป Google Play Books
สำหรับ
Android
และ
iPad/iPhone
แอปจะซิงค์โดยอัตโนมัติกับบัญชีของคุณ และช่วยให้คุณอ่านแบบออนไลน์หรือออฟไลน์ได้ทุกที่
แล็ปท็อปและคอมพิวเตอร์
คุณฟังหนังสือเสียงที่ซื้อจาก Google Play โดยใช้เว็บเบราว์เซอร์ในคอมพิวเตอร์ได้
eReader และอุปกรณ์อื่นๆ
หากต้องการอ่านบนอุปกรณ์ e-ink เช่น Kobo eReader คุณจะต้องดาวน์โหลดและโอนไฟล์ไปยังอุปกรณ์ของคุณ โปรดทำตามวิธีการอย่างละเอียดใน
ศูนย์ช่วยเหลือ
เพื่อโอนไฟล์ไปยัง eReader ที่รองรับ
รายการอื่นๆ ที่เขียนโดย Richard L. Mattis
arrow_forward
A BASIC Program for Calculating Dopant Density Profiles from Capacitance-voltage Data: Volume 13
Richard L. Mattis
4.0
star
ฟรี
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
5.0
star
ฟรี
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Stimulated Current and Capacitance Measurements, Videotape Script
Martin G. Buehler
1.0
star
ฟรี
Microelectronic test pattern NBS-3 for evaluating the resistivity-dopaut density relationship of silicon: Issues 400-422
Martin G. Buehler
ฟรี
eBook ที่คล้ายกัน
arrow_forward
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
5.0
star
ฟรี
Microelectronic Test Pattern NBS-3 for Evaluating the Resistivity-dopant Density Relationship of Silicon: Volume 13
Martin G. Buehler
5.0
star
ฟรี
Planar Test Structures for Characterizing Impurities in Silicon: Volume 13
Martin G. Buehler
ฟรี
Microelectronic Test Patterns: An Overview, Volume 13
Martin G. Buehler
ฟรี