Учкай маалымат
This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument and the specimen interaction can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy.
Автор жөнүндө
Earl J. Kirkland graduated from Case Western Reserve University with a BS in Physics, and from Cornell University with a PhD in Applied Physics. He currently teaches in the Applied Physics Department at Cornell.
Бул электрондук китепти баалаңыз
Оюңуз менен бөлүшүп коюңуз.
Окуу маалыматы
Смартфондор жана планшеттер
Android жана iPad/iPhone үчүн Google Play Китептер колдонмосун орнотуңуз. Ал автоматтык түрдө аккаунтуңуз менен шайкештелип, кайда болбоңуз, онлайнда же оффлайнда окуу мүмкүнчүлүгүн берет.
Ноутбуктар жана компьютерлер
Google Play'ден сатылып алынган аудиокитептерди компьютериңиздин веб браузеринен уга аласыз.
eReaders жана башка түзмөктөр
Kobo eReaders сыяктуу электрондук сыя түзмөктөрүнөн окуу үчүн, файлды жүктөп алып, аны түзмөгүңүзгө өткөрүшүңүз керек. Файлдарды колдоого алынган eReaders'ке өткөрүү үчүн Жардам борборунун нускамаларын аткарыңыз.
