গে’মসমূহ
এপ্সমূহ
চলচ্চিত্র আৰু টিভি
কিতাপ
শিশু
google_logo Play
গে’মসমূহ
এপ্সমূহ
চলচ্চিত্র আৰু টিভি
কিতাপ
শিশু
none
search
help_outline
Googleৰ জৰিয়তে ছাইন ইন কৰক
play_apps
লাইব্ৰেৰী আৰু ডিভাইচ
payment
পৰিশোধ আৰু সদস্যভুক্তিসমূহ
reviews
মোৰ Play কাৰ্যকলাপ
redeem
অ'ফাৰসমূহ
Play Pass
settings
ছেটিংসমূহ
গোপনীয়তাৰ নীতি
•
সেৱাৰ চৰ্তাৱলী
গে’মসমূহ
এপ্সমূহ
চলচ্চিত্র আৰু টিভি
কিতাপ
শিশু
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
জানু ১৯৭৬
· U.S. Department of Commerce, National Bureau of Standards, Institute for Applied Technology, Electronic Technology Division
৫.০
star
১ টা পৰ্যালোচনা
ইবুক
14
পৃষ্ঠা
বিনামূল্যে পাওক
ইচ্ছা-সূচীত যোগ কৰক
এই ইবুকখনৰ বিষয়ে
arrow_forward
মূল্যাংকন আৰু পৰ্যালোচনাসমূহ
মূল্যাংকন আৰু পৰ্যালোচনা সত্যাপন কৰা হোৱা নাই
info_outline
মূল্যাংকন আৰু পৰ্যালোচনা সত্যাপন কৰা হোৱা নাই
info_outline
মূল্যাংকন আৰু পৰ্যালোচনা সত্যাপন কৰা হোৱা নাই
info_outline
৫.০
১ টা পৰ্যালোচনা
5
4
3
2
1
এই ইবুকখনক মূল্যাংকন কৰক
আমাক আপোনাৰ মতামত জনাওক।
এটি পৰ্যালোচনা লিখক
পঢ়াৰ নির্দেশাৱলী
expand_more
স্মাৰ্টফ’ন আৰু টেবলেট
Android
আৰু
iPad/iPhone
ৰ বাবে
Google Play Books এপ
টো ইনষ্টল কৰক। ই স্বয়ংক্রিয়ভাৱে আপোনাৰ একাউণ্টৰ সৈতে ছিংক হয় আৰু আপুনি য'তে নাথাকক ত'তেই কোনো অডিঅ'বুক অনলাইন বা অফলাইনত শুনিবলৈ সুবিধা দিয়ে।
লেপটপ আৰু কম্পিউটাৰ
আপুনি কম্পিউটাৰৰ ৱেব ব্রাউজাৰ ব্যৱহাৰ কৰি Google Playত কিনা অডিঅ'বুকসমূহ শুনিব পাৰে।
ই-ৰীডাৰ আৰু অন্য ডিভাইচ
Kobo eReadersৰ দৰে ই-চিয়াঁহীৰ ডিভাইচসমূহত পঢ়িবলৈ, আপুনি এটা ফাইল ডাউনল’ড কৰি সেইটো আপোনাৰ ডিভাইচলৈ স্থানান্তৰণ কৰিব লাগিব। সমৰ্থিত ই-ৰিডাৰলৈ ফাইলটো কেনেকৈ স্থানান্তৰ কৰিব জানিবলৈ
সহায় কেন্দ্ৰ
ত থকা সবিশেষ নিৰ্দেশাৱলী চাওক।
Martin G. Buehlerৰ দ্বাৰা আৰু অধিক
arrow_forward
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Stimulated Current and Capacitance Measurements, Videotape Script
Martin G. Buehler
১.০
star
বিনামূলীয়া
Microelectronic test pattern NBS-3 for evaluating the resistivity-dopaut density relationship of silicon: Issues 400-422
Martin G. Buehler
বিনামূলীয়া
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Stimulated Current and Capacitance Measurements: Videotape Script, Volume 13
Martin G. Buehler
বিনামূলীয়া
Microelectronic Test Pattern NBS-3 for Evaluating the Resistivity-dopant Density Relationship of Silicon: Volume 13
Martin G. Buehler
বিনামূলীয়া
একেধৰণৰ ই-বুক
arrow_forward
Microelectronic Test Pattern NBS-3 for Evaluating the Resistivity-dopant Density Relationship of Silicon: Volume 13
Martin G. Buehler
৫.০
star
বিনামূলীয়া
Microelectronic Test Patterns: An Overview, Volume 13
Martin G. Buehler
বিনামূলীয়া
Planar Test Structures for Characterizing Impurities in Silicon: Volume 13
Martin G. Buehler
বিনামূলীয়া
A BASIC Program for Calculating Dopant Density Profiles from Capacitance-voltage Data: Volume 13
Richard L. Mattis
৪.০
star
বিনামূলীয়া