Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
জানু ১৯৭৬ · U.S. Department of Commerce, National Bureau of Standards, Institute for Applied Technology, Electronic Technology Division
৫.০star
১ টা পৰ্যালোচনা
ইবুক
14
পৃষ্ঠা
এই ইবুকখনৰ বিষয়ে
মূল্যাংকন আৰু পৰ্যালোচনাসমূহ
৫.০
১ টা পৰ্যালোচনা
এই ইবুকখনক মূল্যাংকন কৰক
আমাক আপোনাৰ মতামত জনাওক।
পঢ়াৰ নির্দেশাৱলী
স্মাৰ্টফ’ন আৰু টেবলেট
Android আৰু iPad/iPhoneৰ বাবে Google Play Books এপটো ইনষ্টল কৰক। ই স্বয়ংক্রিয়ভাৱে আপোনাৰ একাউণ্টৰ সৈতে ছিংক হয় আৰু আপুনি য'তে নাথাকক ত'তেই কোনো অডিঅ'বুক অনলাইন বা অফলাইনত শুনিবলৈ সুবিধা দিয়ে।
লেপটপ আৰু কম্পিউটাৰ
আপুনি কম্পিউটাৰৰ ৱেব ব্রাউজাৰ ব্যৱহাৰ কৰি Google Playত কিনা অডিঅ'বুকসমূহ শুনিব পাৰে।
ই-ৰীডাৰ আৰু অন্য ডিভাইচ
Kobo eReadersৰ দৰে ই-চিয়াঁহীৰ ডিভাইচসমূহত পঢ়িবলৈ, আপুনি এটা ফাইল ডাউনল’ড কৰি সেইটো আপোনাৰ ডিভাইচলৈ স্থানান্তৰণ কৰিব লাগিব। সমৰ্থিত ই-ৰিডাৰলৈ ফাইলটো কেনেকৈ স্থানান্তৰ কৰিব জানিবলৈ সহায় কেন্দ্ৰত থকা সবিশেষ নিৰ্দেশাৱলী চাওক।
