Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Stimulated Current and Capacitance Measurements: Videotape Script, Volume 13
Martin G. Buehler
jan. 1976 · U.S. Department of Commerce, National Bureau of Standards
E-bog
14
Sider
Om denne e-bog
Bedøm denne e-bog
Fortæl os, hvad du mener.
Oplysninger om læsning
Smartphones og tablets
Installer appen Google Play Bøger til Android og iPad/iPhone. Den synkroniserer automatisk med din konto og giver dig mulighed for at læse online eller offline, uanset hvor du er.
Bærbare og stationære computere
Du kan høre lydbøger, du har købt i Google Play via browseren på din computer.
e-læsere og andre enheder
Hvis du vil læse på e-ink-enheder som f.eks. Kobo-e-læsere, skal du downloade en fil og overføre den til din enhed. Følg den detaljerede vejledning i Hjælp for at overføre filerne til understøttede e-læsere.