Тоглоом
Апп
Кино, ТВ
Ном
Хүүхдийн
google_logo Play
Тоглоом
Апп
Кино, ТВ
Ном
Хүүхдийн
none
search
help_outline
Google-р нэвтрэх
play_apps
Сан ба төхөөрөмж
payment
Төлбөр, захиалга
reviews
Миний Play үйл ажиллагаа
redeem
Санал
Play Pass
settings
Тохиргоо
Нууцлалын бодлого
•
Үйлчилгээний нөхцөл
Тоглоом
Апп
Кино, ТВ
Ном
Хүүхдийн
Microelectronic Test Pattern NBS-4: Volume 13
W. Robert Thurber
·
Martin G. Buehler
1978 оны 1-р сар
· U.S. Department of Commerce, National Bureau of Standards
Электрон ном
83
Хуудас
Үнэгүй авах
Хүслийн жагсаалтад нэмэх
Энэ электрон номын тухай
arrow_forward
Энэ электрон номыг үнэлэх
Санал бодлоо хэлнэ үү.
Шүүмж бичих
Унших мэдээлэл
expand_more
Ухаалаг утас болон таблет
Андройд
болон
iPad/iPhone
-д
Google Ном Унших аппыг
суулгана уу. Үүнийг таны бүртгэлд автоматаар синк хийх бөгөөд та хүссэн газраасаа онлайн эсвэл офлайнаар унших боломжтой.
Зөөврийн болон ердийн компьютер
Та компьютерийн веб хөтчөөр Google Play-с авсан аудио номыг сонсох боломжтой.
eReaders болон бусад төхөөрөмжүүд
Kobo Цахим ном уншигч гэх мэт e-ink төхөөрөмжүүд дээр уншихын тулд та файлыг татаад төхөөрөмж рүүгээ дамжуулах шаардлагатай болно. Файлуудаа дэмжигддэг Цахим ном уншигч руу шилжүүлэхийн тулд
Тусламжийн төвийн
дэлгэрэнгүй зааварчилгааг дагана уу.
W. Robert Thurber-н дэлгэрэнгүй
arrow_forward
Microelectronic Test Pattern NBS-4: Volume 13
W. Robert Thurber
2.0
star
Үнэгүй
Microelectronic Test Pattern NBS-4: Volume 13
W. Robert Thurber
Үнэгүй
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
5.0
star
Үнэгүй
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Stimulated Current and Capacitance Measurements, Videotape Script
Martin G. Buehler
1.0
star
Үнэгүй
Төстэй электрон ном
arrow_forward
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
5.0
star
Үнэгүй
Determination of Oxygen Concentration in Silicon and Germanium by Infrared Absorption
W. Robert Thurber
5.0
star
Үнэгүй
Microelectronic Test Pattern NBS-3 for Evaluating the Resistivity-dopant Density Relationship of Silicon: Volume 13
Martin G. Buehler
5.0
star
Үнэгүй
Determination of Deep Impurities in Silicon and Germanium by Infrared Photoconductivity: Volume 13
W. Robert Thurber
5.0
star
Үнэгүй