ဂိမ်းများ
အက်ပ်များ
ရုပ်ရှင်နှင့် TV
စာအုပ်များ
ကလေးများ
google_logo Play
ဂိမ်းများ
အက်ပ်များ
ရုပ်ရှင်နှင့် TV
စာအုပ်များ
ကလေးများ
none
search
help_outline
Google ဖြင့် လက်မှတ်ထိုးဝင်ရန်
play_apps
ဒစ်ဂျစ်တိုက်နှင့် စက်ပစ္စည်းများ
payment
ငွေပေးချေမှုနှင့် စာရင်းပေးသွင်းမှုများ
reviews
ကျွန်ုပ်၏ Play လုပ်ဆောင်ချက်
redeem
အထူးဈေးနှုန်း
Play Pass
settings
ဆက်တင်များ
ကိုယ်ရေးအချက်အလက် လုံခြုံမှုဆိုင်ရာ မူဝါဒ
•
ဝန်ဆောင်မှုစည်းမျဉ်းများ
ဂိမ်းများ
အက်ပ်များ
ရုပ်ရှင်နှင့် TV
စာအုပ်များ
ကလေးများ
Microelectronic Test Pattern NBS-4: Volume 13
W. Robert Thurber
·
Martin G. Buehler
ဇန် ၁၉၇၈
· U.S. Department of Commerce, National Bureau of Standards
E-စာအုပ်
83
မျက်နှာ
အခမဲ့ရယူရန်
လိုချင်သောစာရင်းသို့ ထည့်ရန်
ဤ E-စာအုပ်အကြောင်း
arrow_forward
ဤ E-စာအုပ်ကို အဆင့်သတ်မှတ်ပါ
သင့်အမြင်ကို ပြောပြပါ။
သုံးသပ်ချက်ရေးရန်
သတင်းအချက်အလက် ဖတ်နေသည်
expand_more
စမတ်ဖုန်းများနှင့် တက်ဘလက်များ
Android
နှင့်
iPad/iPhone
တို့အတွက်
Google Play Books အက်ပ်
ကို ထည့်သွင်းပါ။ ၎င်းသည် သင့်အကောင့်နှင့် အလိုအလျောက် စင့်ခ်လုပ်ပေးပြီး နေရာမရွေး အွန်လိုင်းတွင်ဖြစ်စေ သို့မဟုတ် အော့ဖ်လိုင်းတွင်ဖြစ်စေ ဖတ်ရှုခွင့်ရရှိစေပါသည်။
လက်တော့ပ်များနှင့် ကွန်ပျူတာများ
Google Play မှတစ်ဆင့် ဝယ်ယူထားသော အော်ဒီယိုစာအုပ်များအား သင့်ကွန်ပျူတာ၏ ဝဘ်ဘရောင်ဇာကို အသုံးပြု၍ နားဆင်နိုင်ပါသည်။
eReaders နှင့် အခြားကိရိယာများ
Kobo eReader များကဲ့သို့ e-ink စက်ပစ္စည်းပေါ်တွင် ဖတ်ရှုရန် ဖိုင်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပြီး သင့်စက်ထဲသို့ လွှဲပြောင်းပေးရမည်။ ထောက်ပံ့ထားသည့် eReader များသို့ ဖိုင်များကို လွှဲပြောင်းရန်
ကူညီရေးဌာန
အသေးစိတ် ညွှန်ကြားချက်များအတိုင်း လုပ်ဆောင်ပါ။
W. Robert Thurber မှနောက်ထပ်
arrow_forward
Microelectronic Test Pattern NBS-4: Volume 13
W. Robert Thurber
၂.၀
star
အခမဲ့
Microelectronic Test Pattern NBS-4: Volume 13
W. Robert Thurber
အခမဲ့
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
၅.၀
star
အခမဲ့
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Stimulated Current and Capacitance Measurements, Videotape Script
Martin G. Buehler
၁.၀
star
အခမဲ့
အလားတူ E-စာအုပ်များ
arrow_forward
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
၅.၀
star
အခမဲ့
Determination of Oxygen Concentration in Silicon and Germanium by Infrared Absorption
W. Robert Thurber
၅.၀
star
အခမဲ့
Microelectronic Test Pattern NBS-3 for Evaluating the Resistivity-dopant Density Relationship of Silicon: Volume 13
Martin G. Buehler
၅.၀
star
အခမဲ့
Determination of Deep Impurities in Silicon and Germanium by Infrared Photoconductivity: Volume 13
W. Robert Thurber
၅.၀
star
အခမဲ့