ਗੇਮਾਂ
ਐਪਾਂ
ਫ਼ਿਲਮਾਂ ਅਤੇ ਟੀਵੀ
ਕਿਤਾਬਾਂ
ਬੱਚੇ
google_logo Play
ਗੇਮਾਂ
ਐਪਾਂ
ਫ਼ਿਲਮਾਂ ਅਤੇ ਟੀਵੀ
ਕਿਤਾਬਾਂ
ਬੱਚੇ
none
search
help_outline
Google ਨਾਲ ਸਾਈਨ-ਇਨ ਕਰੋ
play_apps
ਲਾਇਬ੍ਰੇਰੀ ਅਤੇ ਡੀਵਾਈਸ
payment
ਭੁਗਤਾਨ ਅਤੇ ਸਬਸਕ੍ਰਿਪਸ਼ਨਾਂ
reviews
ਮੇਰੀ Play ਸਰਗਰਮੀ
redeem
ਪੇਸ਼ਕਸ਼ਾਂ
Play Pass
settings
ਸੈਟਿੰਗਾਂ
ਪਰਦੇਦਾਰੀ ਨੀਤੀ
•
ਸੇਵਾ ਦੇ ਨਿਯਮ
ਗੇਮਾਂ
ਐਪਾਂ
ਫ਼ਿਲਮਾਂ ਅਤੇ ਟੀਵੀ
ਕਿਤਾਬਾਂ
ਬੱਚੇ
Microelectronic Test Pattern NBS-4: Volume 13
W. Robert Thurber
·
Martin G. Buehler
ਜਨ 1978
· U.S. Department of Commerce, National Bureau of Standards
ਈ-ਕਿਤਾਬ
83
ਪੰਨੇ
ਮੁਫ਼ਤ 'ਚ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰੋ
ਵਿਸ਼ਲਿਸਟ ਵਿੱਚ ਸ਼ਾਮਲ ਕਰੋ
ਇਸ ਈ-ਕਿਤਾਬ ਬਾਰੇ
arrow_forward
ਇਸ ਈ-ਕਿਤਾਬ ਨੂੰ ਰੇਟ ਕਰੋ
ਆਪਣੇ ਵਿਚਾਰ ਦੱਸੋ
ਕੋਈ ਸਮੀਖਿਆ ਲਿਖੋ
ਪੜ੍ਹਨ ਸੰਬੰਧੀ ਜਾਣਕਾਰੀ
expand_more
ਸਮਾਰਟਫ਼ੋਨ ਅਤੇ ਟੈਬਲੈੱਟ
Google Play Books ਐਪ
ਨੂੰ
Android
ਅਤੇ
iPad/iPhone
ਲਈ ਸਥਾਪਤ ਕਰੋ। ਇਹ ਤੁਹਾਡੇ ਖਾਤੇ ਨਾਲ ਸਵੈਚਲਿਤ ਤੌਰ 'ਤੇ ਸਿੰਕ ਕਰਦੀ ਹੈ ਅਤੇ ਤੁਹਾਨੂੰ ਕਿਤੋਂ ਵੀ ਆਨਲਾਈਨ ਜਾਂ ਆਫ਼ਲਾਈਨ ਪੜ੍ਹਨ ਦਿੰਦੀ ਹੈ।
ਲੈਪਟਾਪ ਅਤੇ ਕੰਪਿਊਟਰ
ਤੁਸੀਂ ਆਪਣੇ ਕੰਪਿਊਟਰ ਦਾ ਵੈੱਬ ਬ੍ਰਾਊਜ਼ਰ ਵਰਤਦੇ ਹੋਏ Google Play 'ਤੇ ਖਰੀਦੀਆਂ ਗਈਆਂ ਆਡੀਓ-ਕਿਤਾਬਾਂ ਸੁਣ ਸਕਦੇ ਹੋ।
eReaders ਅਤੇ ਹੋਰ ਡੀਵਾਈਸਾਂ
e-ink ਡੀਵਾਈਸਾਂ 'ਤੇ ਪੜ੍ਹਨ ਲਈ ਜਿਵੇਂ Kobo eReaders, ਤੁਹਾਨੂੰ ਫ਼ਾਈਲ ਡਾਊਨਲੋਡ ਕਰਨ ਅਤੇ ਇਸਨੂੰ ਆਪਣੇ ਡੀਵਾਈਸ 'ਤੇ ਟ੍ਰਾਂਸਫਰ ਕਰਨ ਦੀ ਲੋੜ ਹੋਵੇਗੀ। ਸਮਰਥਿਤ eReaders 'ਤੇ ਫ਼ਾਈਲਾਂ ਟ੍ਰਾਂਸਫਰ ਕਰਨ ਲਈ ਵੇਰਵੇ ਸਹਿਤ
ਮਦਦ ਕੇਂਦਰ
ਹਿਦਾਇਤਾਂ ਦੀ ਪਾਲਣਾ ਕਰੋ।
W. Robert Thurber ਵੱਲੋਂ ਹੋਰ
arrow_forward
Microelectronic Test Pattern NBS-4: Volume 13
W. Robert Thurber
2.0
star
ਮੁਫ਼ਤ
Microelectronic Test Pattern NBS-4: Volume 13
W. Robert Thurber
ਮੁਫ਼ਤ
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
5.0
star
ਮੁਫ਼ਤ
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Stimulated Current and Capacitance Measurements, Videotape Script
Martin G. Buehler
1.0
star
ਮੁਫ਼ਤ
ਮਿਲਦੀਆਂ-ਜੁਲਦੀਆਂ ਈ-ਕਿਤਾਬਾਂ
arrow_forward
Defects in PN Junctions and MOS Capacitors Observed Using Thermally Simulated Current and Capacitance Measurements--video Script: Issues 400-426
Martin G. Buehler
5.0
star
ਮੁਫ਼ਤ
Determination of Oxygen Concentration in Silicon and Germanium by Infrared Absorption
W. Robert Thurber
5.0
star
ਮੁਫ਼ਤ
Microelectronic Test Pattern NBS-3 for Evaluating the Resistivity-dopant Density Relationship of Silicon: Volume 13
Martin G. Buehler
5.0
star
ਮੁਫ਼ਤ
Determination of Deep Impurities in Silicon and Germanium by Infrared Photoconductivity: Volume 13
W. Robert Thurber
5.0
star
ਮੁਫ਼ਤ