Silicon Device Processing: Proceedings

· U.S. National Bureau of Standards
E-raamat
457
lehekülge

Teave selle e-raamatu kohta

The objective of the Symposium was to provide an opportunity for engineers and applied scientists actively engaged in the silicon device technology field to discuss the most advanced measurement methods for process control and materials characterization.The basic theme of the meeting was to stress the interdependence of measurements techniques, facilities, and materials as they relate to the overall problems of improving and advancing silicon device sciences and technologies.(Author).

Hinnake seda e-raamatut

Andke meile teada, mida te arvate.

Lugemisteave

Nutitelefonid ja tahvelarvutid
Installige rakendus Google Play raamatud Androidile ja iPadile/iPhone'ile. See sünkroonitakse automaatselt teie kontoga ja see võimaldab teil asukohast olenemata lugeda nii võrgus kui ka võrguühenduseta.
Sülearvutid ja arvutid
Google Playst ostetud audioraamatuid saab kuulata arvuti veebibrauseris.
E-lugerid ja muud seadmed
E-tindi seadmetes (nt Kobo e-lugerid) lugemiseks peate faili alla laadima ja selle oma seadmesse üle kandma. Failide toetatud e-lugeritesse teisaldamiseks järgige üksikasjalikke abikeskuse juhiseid.