Silicon Device Processing: Proceedings
Charles P. Marsden
1970年1月 · U.S. National Bureau of Standards
電子書籍
457
ページ
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The objective of the Symposium was to provide an opportunity for engineers and applied scientists actively engaged in the silicon device technology field to discuss the most advanced measurement methods for process control and materials characterization.The basic theme of the meeting was to stress the interdependence of measurements techniques, facilities, and materials as they relate to the overall problems of improving and advancing silicon device sciences and technologies.(Author).
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