Silicon Device Processing: Proceedings

· U.S. National Bureau of Standards
E‑kniha
457
Počet strán

Táto e‑kniha

The objective of the Symposium was to provide an opportunity for engineers and applied scientists actively engaged in the silicon device technology field to discuss the most advanced measurement methods for process control and materials characterization.The basic theme of the meeting was to stress the interdependence of measurements techniques, facilities, and materials as they relate to the overall problems of improving and advancing silicon device sciences and technologies.(Author).

Ohodnoťte túto elektronickú knihu

Povedzte nám svoj názor.

Informácie o dostupnosti

Smartfóny a tablety
Nainštalujte si aplikáciu Knihy Google Play pre AndroidiPad/iPhone. Automaticky sa synchronizuje s vaším účtom a umožňuje čítať online aj offline, nech už ste kdekoľvek.
Laptopy a počítače
Audioknihy zakúpené v službe Google Play môžete počúvať prostredníctvom webového prehliadača v počítači.
Čítačky elektronických kníh a ďalšie zariadenia
Ak chcete tento obsah čítať v zariadeniach využívajúcich elektronický atrament, ako sú čítačky e‑kníh Kobo, musíte stiahnuť príslušný súbor a preniesť ho do svojho zariadenia. Pri prenose súborov do podporovaných čítačiek e‑kníh postupujte podľa podrobných pokynov v centre pomoci.