Informacje o e-booku
Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes - which belong together - contributes further to the evolution of SPM techniques.
Oceń tego e-booka
Podziel się z nami swoją opinią.
Informacje o czytaniu
Smartfony i tablety
Zainstaluj aplikację Książki Google Play na Androida i iPada/iPhone'a. Synchronizuje się ona automatycznie z kontem i pozwala na czytanie w dowolnym miejscu, w trybie online i offline.
Laptopy i komputery
Audiobooków kupionych w Google Play możesz słuchać w przeglądarce internetowej na komputerze.
Czytniki e-booków i inne urządzenia
Aby czytać na e-papierze, na czytnikach takich jak Kobo, musisz pobrać plik i przesłać go na swoje urządzenie. Aby przesłać pliki na obsługiwany czytnik, postępuj zgodnie ze szczegółowymi instrukcjami z Centrum pomocy.
