Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

· Lessons From Nanoscience: A Lecture Notes Series หนังสือเล่มที่ 4 · World Scientific
eBook
340
หน้า
มีสิทธิ์

เกี่ยวกับ eBook เล่มนี้

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of study. These lecture notes aim to provide advanced undergraduates and beginning graduates in all fields of science and engineering with the required knowledge to sensibly use an AFM. Relevant background material is often reviewed in depth and summarized in a pedagogical, self-paced style to provide a fundamental understanding of the scientific principles underlying the use and operation of an AFM. Useful as a study guide to “Fundamentals of AFM”, an online video course available at https://nanohub.org/courses/AFM1/Suitable for Graduate/Undergraduate Independent Reading and Research Course in AFM (with the combination of book and online videos)

ให้คะแนน eBook นี้

แสดงความเห็นของคุณให้เรารับรู้

ข้อมูลในการอ่าน

สมาร์ทโฟนและแท็บเล็ต
ติดตั้งแอป Google Play Books สำหรับ Android และ iPad/iPhone แอปจะซิงค์โดยอัตโนมัติกับบัญชีของคุณ และช่วยให้คุณอ่านแบบออนไลน์หรือออฟไลน์ได้ทุกที่
แล็ปท็อปและคอมพิวเตอร์
คุณฟังหนังสือเสียงที่ซื้อจาก Google Play โดยใช้เว็บเบราว์เซอร์ในคอมพิวเตอร์ได้
eReader และอุปกรณ์อื่นๆ
หากต้องการอ่านบนอุปกรณ์ e-ink เช่น Kobo eReader คุณจะต้องดาวน์โหลดและโอนไฟล์ไปยังอุปกรณ์ของคุณ โปรดทำตามวิธีการอย่างละเอียดในศูนย์ช่วยเหลือเพื่อโอนไฟล์ไปยัง eReader ที่รองรับ

อ่านซีรีส์นี้ต่อ

eBook ที่คล้ายกัน