Gettering Defects in Semiconductors

·
· Springer Series in Advanced Microelectronics বই 19 · Springer Science & Business Media
ই-বুক
388
পৃষ্ঠা

এই ই-বুকের বিষয়ে

Gettering Defects in Semiconductors fulfills three basic purposes:

– to systematize the experience and research in exploiting various gettering techniques in microelectronics and nanoelectronics;

– to identify new directions in research, particularly to enhance the perspective of professionals and young researchers and specialists;

– to fill a gap in the contemporary literature on the underlying semiconductor-material theory.

The authors address not only well-established gettering techniques but also describe contemporary trends in gettering technologies from an international perspective. The types and properties of structural defects in semiconductors, their generating and their transforming mechanisms during fabrication are described. The primary emphasis is placed on classifying and describing specific gettering techniques, their specificity arising from both their position in a general technological process and the regimes of their application. This book addresses both engineers and material scientists interested in semiconducting materials theory and also undergraduate and graduate students in solid–state microelectronics and nanoelectronics. A comprehensive list of references provides readers with direction for further reading.

ই-বুকে রেটিং দিন

আপনার মতামত জানান।

পঠন তথ্য

স্মার্টফোন এবং ট্যাবলেট
Android এবং iPad/iPhone এর জন্য Google Play বই অ্যাপ ইনস্টল করুন। এটি আপনার অ্যাকাউন্টের সাথে অটোমেটিক সিঙ্ক হয় ও আপনি অনলাইন বা অফলাইন যাই থাকুন না কেন আপনাকে পড়তে দেয়।
ল্যাপটপ ও কম্পিউটার
Google Play থেকে কেনা অডিওবুক আপনি কম্পিউটারের ওয়েব ব্রাউজারে শুনতে পারেন।
eReader এবং অন্যান্য ডিভাইস
Kobo eReaders-এর মতো e-ink ডিভাইসে পড়তে, আপনাকে একটি ফাইল ডাউনলোড ও আপনার ডিভাইসে ট্রান্সফার করতে হবে। ব্যবহারকারীর উদ্দেশ্যে তৈরি সহায়তা কেন্দ্রতে দেওয়া নির্দেশাবলী অনুসরণ করে যেসব eReader-এ ফাইল পড়া যাবে সেখানে ট্রান্সফার করুন।