Acerca de este libro electrónico
"Updates fundamentals and applications of all modes of x-ray spectrometry, including total reflection and polarized beam x-ray fluorescence analysis, and synchrotron radiation induced x-ray emission. Promotes the accurate measurement of samples while reducing the scattered background in the x-ray spectrum."
Calificaciones y opiniones
5.0
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Acerca del autor
Rene van Grieken
Andrzej Markowicz
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