O ovoj e-knjizi
This volume features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers cover a wide range of testing and failure analysis topics of practical value to anyone working to detect, understand, and eliminate electronic device and system failures.
Ocenite ovu e-knjigu
Javite nam svoje mišljenje.
Informacije o čitanju
Pametni telefoni i tableti
Instalirajte aplikaciju Google Play knjige za Android i iPad/iPhone. Automatski se sinhronizuje sa nalogom i omogućava vam da čitate onlajn i oflajn gde god da se nalazite.
Laptopovi i računari
Možete da slušate audio-knjige kupljene na Google Play-u pomoću veb-pregledača na računaru.
E-čitači i drugi uređaji
Da biste čitali na uređajima koje koriste e-mastilo, kao što su Kobo e-čitači, treba da preuzmete fajl i prenesete ga na uređaj. Pratite detaljna uputstva iz centra za pomoć da biste preneli fajlove u podržane e-čitače.
