معلومات عن هذا الكتاب الإلكتروني
This book covers state-of-the-art techniques commonly used in modern materials characterization. Two important aspects of characterization, materials structures and chemical analysis, are included. Widely used techniques, such as metallography (light microscopy), X-ray diffraction, transmission and scanning electron microscopy, are described. In addition, the book introduces advanced techniques, including scanning probe microscopy. The second half of the book accordingly presents techniques such as X-ray energy dispersive spectroscopy (commonly equipped in the scanning electron microscope), fluorescence X-ray spectroscopy, and popular surface analysis techniques (XPS and SIMS). Finally, vibrational spectroscopy (FTIR and Raman) and thermal analysis are also covered.
نبذة عن المؤلف
Yang Leng is a Professor of Materials Science at Hong Kong University of Science and Technology. His research focuses on mechanical behavior of engineering materials, biomedical materials, and novel materials processing. Professor Leng has authored nearly 80 papers in international journals and has been granted two US patents. In addition, he commissioned more than a dozen industrial reports. His contribution to teaching materials science is exemplified by the Teaching Excellence Appreciation award from the HKUST.
تقييم هذا الكتاب الإلكتروني
أخبرنا ما هو رأيك.
معلومات القراءة
الهواتف الذكية والأجهزة اللوحية
ينبغي تثبيت تطبيق كتب Google Play لنظام التشغيل Android وiPad/iPhone. يعمل هذا التطبيق على إجراء مزامنة تلقائية مع حسابك ويتيح لك القراءة أثناء الاتصال بالإنترنت أو بلا اتصال بالإنترنت أينما كنت.
أجهزة الكمبيوتر المحمول وأجهزة الكمبيوتر
يمكنك الاستماع إلى الكتب المسموعة التي تم شراؤها على Google Play باستخدام متصفح الويب على جهاز الكمبيوتر.
أجهزة القراءة الإلكترونية والأجهزة الأخرى
للقراءة على أجهزة الحبر الإلكتروني، مثل أجهزة القارئ الإلكتروني Kobo، عليك تنزيل ملف ونقله إلى جهازك. يُرجى اتّباع التعليمات المفصّلة في مركز المساعدة لتتمكّن من نقل الملفات إلى أجهزة القارئ الإلكتروني المتوافقة.
