Pattern Classification: Edition 2
2012年11月 · 「John Wiley & Sons」から販売
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この電子書籍について
Unter Musterklassifikation versteht man die Zuordnung eines physikalischen Objektes zu einer von mehreren vordefinierten Kategorien. Auf dieser Grundlage können Computer Muster erkennen. Das Interesse an diesem Forschungsgebiet hat in den letzten Jahren, besonders im Zuge der Weiterentwicklung neuronaler Netze, stark zugenommen. Die umfassend überarbeitete, erweiterte und jetzt zweifarbig gestaltete Neuauflage beschreibt alle wesentlichen Aspekte der Mustererkennung systematisch und verständlich. Mit Lösungsheft! (01/00)
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著者について
RICHARD O. DUDA, PhD, is Professor in the Electrical Engineering Department at San Jose State University, San Jose, California.
PETER E. HART, PhD, is Chief Executive Officer and President of Ricoh Innovations, Inc. in Menlo Park, California.
DAVID G. STORK, PhD, is Chief Scientist, also at Ricoh Innovations, Inc.
PETER E. HART, PhD, is Chief Executive Officer and President of Ricoh Innovations, Inc. in Menlo Park, California.
DAVID G. STORK, PhD, is Chief Scientist, also at Ricoh Innovations, Inc.
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