Acerca de este libro electrónico
CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.
Acerca del autor
Manjul Bhushan is a technical consultant in New York.
Mark Ketchen is a technical consultant in Massachusetts.
Califica este libro electrónico
Cuéntanos lo que piensas.
Información de lectura
Smartphones y tablets
Instala la app de Google Play Libros para Android y iPad/iPhone. Como se sincroniza de manera automática con tu cuenta, te permite leer en línea o sin conexión en cualquier lugar.
Laptops y computadoras
Para escuchar audiolibros adquiridos en Google Play, usa el navegador web de tu computadora.
Lectores electrónicos y otros dispositivos
Para leer en dispositivos de tinta electrónica, como los lectores de libros electrónicos Kobo, deberás descargar un archivo y transferirlo a tu dispositivo. Sigue las instrucciones detalladas que aparecen en el Centro de ayuda para transferir los archivos a lectores de libros electrónicos compatibles.
