Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces

·
· Springer Series in Surface Sciences पुस्तक 48 · Springer Science & Business Media
५.०
२ समीक्षाहरू
इ-पुस्तक
334
पृष्ठहरू

यो इ-पुस्तकका बारेमा

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.

मूल्याङ्कन र समीक्षाहरू

५.०
२ समीक्षाहरू

यो इ-पुस्तकको मूल्याङ्कन गर्नुहोस्

हामीलाई आफ्नो धारणा बताउनुहोस्।

जानकारी पढ्दै

स्मार्टफोन तथा ट्याबलेटहरू
AndroidiPad/iPhone का लागि Google Play किताब एप को इन्स्टल गर्नुहोस्। यो तपाईंको खातासॅंग स्वतः सिंक हुन्छ र तपाईं अनलाइन वा अफलाइन जहाँ भए पनि अध्ययन गर्न दिन्छ।
ल्यापटप तथा कम्प्युटरहरू
तपाईं Google Play मा खरिद गरिएको अडियोबुक आफ्नो कम्प्युटरको वेब ब्राउजर प्रयोग गरेर सुन्न सक्नुहुन्छ।
eReaders र अन्य उपकरणहरू
Kobo eReaders जस्ता e-ink डिभाइसहरूमा फाइल पढ्न तपाईंले फाइल डाउनलोड गरेर उक्त फाइल आफ्नो डिभाइसमा ट्रान्स्फर गर्नु पर्ने हुन्छ। ती फाइलहरू पढ्न मिल्ने इबुक रिडरहरूमा ती फाइलहरू ट्रान्स्फर गर्नेसम्बन्धी विस्तृत निर्देशनहरू प्राप्त गर्न मद्दत केन्द्र मा जानुहोस्।